BenchTop Scanning Electron Microscope (BenchTop-SEM)

BenchTop Scanning Electron Microscope (BenchTop-SEM)

ข้อมูลเครื่องมือ

ยี่ห้อ : 

JEOL

รุ่น :

JCM-6000

ประเทศผู้ผลิต :

Japan

รายละเอียดเครื่องมือ :

กำลังขยาย 10 - 60000 เท่า ในโหมด Secondary Electron Image (SEI) และกำลังขยาย 10 - 30000 เท่า ในโหมด Backscattered Electron Image (BEI) ขึ้นกับความเหมาะสมของแต่ละตัวอย่าง ศักย์เร่งอิเล็กตรอนสามารถปรับเปลี่ยนในช่วง 5, 10 และ 15 kV สามารถใช้งานได้ทั้งในโหมด High vacuum หรือ Low vacuum ได้

 

 

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดชนิดตั้งโต๊ะเป็นเครื่องมือที่สามารถใช้ในการตรวจวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิว ขนาด รูปร่างของอนุภาคและลักษณะการกระจายของเฟสในโครงสร้างจุลภาค เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยายสูง (<60000 เท่า) ทำให้สามารถศึกษาโครงสร้างระดับไมโครได้อย่างดีในงานด้านวัสดุศาสตร์ นอกจากนี้ยังใช้งานได้ทั้งในโหมดสุญญากาศต่ำและสูง

BenchTop Scanning Electron Microscope (BenchTop-SEM)

อัตราค่าบริการ (บาท)

หน่วยนับ

หมายเหตุ

อัตรา 1

อัตรา 2

อัตรา 3

อัตรา 4

(ก) ค่าใช้เครื่องมือ

300

450

750

1000

ชั่วโมง

(ข) ค่าถ่ายรูป

50

50

50

50

รูป

(ค) ค่าทำแห้งด้วย CPD

400

500

600

800

ครั้ง

(ง) ค่าฉาบทอง

200

200

300

350

ครั้ง

(จ) ค่าฉาบคาร์บอน

150

150

200

250

ครั้ง