ข้อมูลเครื่องมือ |
|
ยี่ห้อ : |
JEOL |
รุ่น : |
JCM-6000 |
ประเทศผู้ผลิต : |
Japan |
รายละเอียดเครื่องมือ : |
กำลังขยาย 10 - 60000 เท่า ในโหมด Secondary Electron Image (SEI) และกำลังขยาย 10 - 30000 เท่า ในโหมด Backscattered Electron Image (BEI) ขึ้นกับความเหมาะสมของแต่ละตัวอย่าง ศักย์เร่งอิเล็กตรอนสามารถปรับเปลี่ยนในช่วง 5, 10 และ 15 kV สามารถใช้งานได้ทั้งในโหมด High vacuum หรือ Low vacuum ได้ |
|
|
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดชนิดตั้งโต๊ะเป็นเครื่องมือที่สามารถใช้ในการตรวจวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิว ขนาด รูปร่างของอนุภาคและลักษณะการกระจายของเฟสในโครงสร้างจุลภาค เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยายสูง (<60000 เท่า) ทำให้สามารถศึกษาโครงสร้างระดับไมโครได้อย่างดีในงานด้านวัสดุศาสตร์ นอกจากนี้ยังใช้งานได้ทั้งในโหมดสุญญากาศต่ำและสูง
BenchTop Scanning Electron Microscope (BenchTop-SEM) |
อัตราค่าบริการ (บาท) |
หน่วยนับ |
หมายเหตุ |
|||
อัตรา 1 |
อัตรา 2 |
อัตรา 3 |
อัตรา 4 |
|||
(ก) ค่าใช้เครื่องมือ |
300 |
450 |
750 |
1000 |
ชั่วโมง |
|
(ข) ค่าถ่ายรูป |
50 |
50 |
50 |
50 |
รูป |
|
(ค) ค่าทำแห้งด้วย CPD |
400 |
500 |
600 |
800 |
ครั้ง |
|
(ง) ค่าฉาบทอง |
200 |
200 |
300 |
350 |
ครั้ง |
|
(จ) ค่าฉาบคาร์บอน |
150 |
150 |
200 |
250 |
ครั้ง |