BenchTop Scanning Electron Microscope (BenchTop-SEM)

BenchTop Scanning Electron Microscope (BenchTop-SEM)

ข้อมูลเครื่องมือ

ยี่ห้อ : 

JEOL

รุ่น :

JCM-6000

ประเทศผู้ผลิต :

Japan

รายละเอียดเครื่องมือ :

กำลังขยาย 10 - 60000 เท่า ในโหมด Secondary Electron Image (SEI) และกำลังขยาย 10 - 30000 เท่า ในโหมด Backscattered Electron Image (BEI) ขึ้นกับความเหมาะสมของแต่ละตัวอย่าง ศักย์เร่งอิเล็กตรอนสามารถปรับเปลี่ยนในช่วง 5, 10 และ 15 kV สามารถใช้งานได้ทั้งในโหมด High vacuum หรือ Low vacuum ได้

 

 

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดชนิดตั้งโต๊ะเป็นเครื่องมือที่สามารถใช้ในการตรวจวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิว ขนาด รูปร่างของอนุภาคและลักษณะการกระจายของเฟสในโครงสร้างจุลภาค เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยายสูง (<60000 เท่า) ทำให้สามารถศึกษาโครงสร้างระดับไมโครได้อย่างดีในงานด้านวัสดุศาสตร์ นอกจากนี้ยังใช้งานได้ทั้งในโหมดสุญญากาศต่ำและสูง

BenchTop Scanning Electron Microscope (BenchTop-SEM)

อัตราค่าบริการ (บาท)

หน่วยนับ

หมายเหตุ

(ก) ค่าใช้เครื่องมือ

ชั่วโมง

(ข) ค่าถ่ายรูป

รูป

(ค) ค่าทำแห้งด้วย CPD

ครั้ง

(ง) ค่าฉาบทอง

ครั้ง

(จ) ค่าฉาบคาร์บอน

ครั้ง