ข้อมูลเครื่องมือ |
|
ยี่ห้อ : |
JEOL, |
รุ่น : |
JEM-2100 Plus |
ประเทศผู้ผลิต : |
Japan |
รายละเอียดเครื่องมือ : |
- TEM 200kV รูปแบบการทดสอบ - TEM and high-resolution TEM - STEM (Bright Field และ Dark Field) - Selected Area Electron Diffraction (SAED) |
|
|
สามารถวิเคราะห์วัสดุโดยใช้อิเล็กตรอนที่ผ่านโฟกัสด้วยระบบเลนส์แม่เหล็กเพื่อยิงทะลุผ่านชิ้นงานบางๆ (บางระดับนาโน) ให้ไปตกลงฉากรับภาพ เทคนิคนี้ใช้ศึกษาโครงสร้างจุลภาค สัณฐานของอนุภาค โครงสร้างผลึก รวมถึงองค์ประกอบทางเคมี (ใช้ร่วมกับ EDS)
Transmission Electron Microscope (TEM) |
อัตราค่าบริการ (บาท) |
หน่วยนับ |
หมายเหตุ |
|||
อัตรา 1 |
อัตรา 2 |
อัตรา 3 |
อัตรา 4 |
|||
(ก) ค่าใช้บริการเครื่องมือ |
1000 |
1500 |
2000 |
3000 |
ชั่วโมง |
|
(ข) ค่าถ่ายรูป |
50 |
50 |
50 |
50 |
รูป |
|
(ค) ค่าวิเคราะห์ด้วย EDS |
300 |
400 |
500 |
600 |
บริเวณ |
|
(ง) ค่าวิเคราะห์ด้วย Mapping |
600 |
800 |
1000 |
1200 |
ภาพ |
|
(จ) ค่า Cu Grid |
60 |
60 |
60 |
60 |
ชิ้น |
|
(ฉ) ค่า Carbon Film Supported Cu Grid |
300 |
300 |
300 |
300 |
ชิ้น |