ข้อมูลเครื่องมือ |
|
ยี่ห้อ : |
JEOL, |
รุ่น : |
JEM-2100 Plus |
ประเทศผู้ผลิต : |
Japan |
รายละเอียดเครื่องมือ : |
- TEM 200kV รูปแบบการทดสอบ - TEM and high-resolution TEM - STEM (Bright Field และ Dark Field) - Selected Area Electron Diffraction (SAED) |
|
|
สามารถวิเคราะห์วัสดุโดยใช้อิเล็กตรอนที่ผ่านโฟกัสด้วยระบบเลนส์แม่เหล็กเพื่อยิงทะลุผ่านชิ้นงานบางๆ (บางระดับนาโน) ให้ไปตกลงฉากรับภาพ เทคนิคนี้ใช้ศึกษาโครงสร้างจุลภาค สัณฐานของอนุภาค โครงสร้างผลึก รวมถึงองค์ประกอบทางเคมี (ใช้ร่วมกับ EDS)
Transmission Electron Microscope (TEM) |
อัตราค่าบริการ (บาท) |
หน่วยนับ |
หมายเหตุ |
(ก) ค่าใช้บริการเครื่องมือ |
ชั่วโมง |
||
(ข) ค่าถ่ายรูป |
รูป |
||
(ค) ค่าวิเคราะห์ด้วย EDS |
บริเวณ |
||
(ง) ค่าวิเคราะห์ด้วย Mapping |
ภาพ |
||
(จ) ค่า Cu Grid |
ชิ้น |
||
(ฉ) ค่า Carbon Film Supported Cu Grid |
ชิ้น |