Transmission Electron Microscope (TEM)

Transmission Electron Microscope (TEM)

ข้อมูลเครื่องมือ

ยี่ห้อ : 

JEOL,

รุ่น :

JEM-2100 Plus

ประเทศผู้ผลิต :

Japan

รายละเอียดเครื่องมือ :

- TEM 200kV รูปแบบการทดสอบ - TEM and high-resolution TEM - STEM (Bright Field และ Dark Field) - Selected Area Electron Diffraction (SAED)

 

 

สามารถวิเคราะห์วัสดุโดยใช้อิเล็กตรอนที่ผ่านโฟกัสด้วยระบบเลนส์แม่เหล็กเพื่อยิงทะลุผ่านชิ้นงานบางๆ (บางระดับนาโน) ให้ไปตกลงฉากรับภาพ เทคนิคนี้ใช้ศึกษาโครงสร้างจุลภาค สัณฐานของอนุภาค โครงสร้างผลึก รวมถึงองค์ประกอบทางเคมี (ใช้ร่วมกับ EDS)

Transmission Electron Microscope (TEM)

อัตราค่าบริการ (บาท)

หน่วยนับ

หมายเหตุ

(ก) ค่าใช้บริการเครื่องมือ

ชั่วโมง

(ข) ค่าถ่ายรูป

รูป

(ค) ค่าวิเคราะห์ด้วย EDS

บริเวณ

(ง) ค่าวิเคราะห์ด้วย Mapping

ภาพ

(จ) ค่า Cu Grid

ชิ้น

(ฉ) ค่า Carbon Film Supported Cu Grid

ชิ้น