เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ X-ray Diffractometer (XRD)

เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ X-ray Diffractometer (XRD)

ข้อมูลเครื่องมือ

ยี่ห้อ : 

Bruker

รุ่น :

D8 ADVANCE

ประเทศผู้ผลิต :

Germany

รายละเอียดเครื่องมือ :

- Powder diffraction - Thin Film - High Temperature - Small Angle X-ray Scattering (SAXs) - ตัวอย่างที่ทดสอบต้องเป็นผลึก (Crystal) เท่านั้น - ตัวอย่างชนิดเป็นผงละเอียดใช้ปริมาณมากกว่า 1 กรัม (หากตัวอย่างมีน้อยสามารถใช้ Holder แบบ zero background ได้) - ตัวอย่างชนิดที่เป็นชิ้นงานจะต้องมีลักษณะผิวเรียบขนาด 1-1.5x2 เซนติเมตร

 

 

XRD เป็นเครื่องมือที่อาศัยหลักการของ Bragg's Law คือ เมื่อรังสีเอกซ์ตกกระทบกับระนาบของอะตอมภายในผลึก รังสีเอกซ์จะเกิดการสะท้อนที่มุมสะท้อนเท่ากับมุมตกกระทบ ทำให้มีการนำมาใช้ศึกษารูปแบบโครงสร้างผลึกของสารตัวอย่าง ซึ่งผลึกของสารตัวอย่างแต่ละชนิดจะมีขนาดของ Unit Cell ที่ไม่เท่ากัน ทำให้รูปแบบของการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่ได้ออกมาแตกต่างกัน ทำให้สามารถหาความสัมพันธ์ของสารประกอบต่าง ๆ กับรูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ได้ ทำให้สามารถพิสูจน์เอกลักษณ์ (identification) โครงสร้างผลึกของวัสดุหรือสารตัวอย่างนั้นๆได้

เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ X-ray Diffractometer (XRD)

อัตราค่าบริการ (บาท)

หน่วยนับ

หมายเหตุ

(ก) Powder Diffraction หรือชิ้นงานทั่วไป

600

ตัวอย่าง

(1) (ก) – (ค) ค่าบริการเฉพาะการทดสอบไม่รวมการวิเคราะห์ผล (2) (จ) – (ฉ) ค่าบริการการวิเคราะห์ผล

(ข) การทดสอบด้วยเทคนิค Small Angle X-Ray Scattering (SAXS) หรือ High Resolution XRD (HRXRD)

1200

ตัวอย่าง

(ค) การทดสอบโดยใช้ระบบ High Temperature

1500

ชั่วโมง

(ง) การทดสอบด้วยเทคนิค X-Ray Reflectivity (XRR) หรือTexture

1500

ตัวอย่าง

(จ) การวิเคราะห์ Phase Identification Analysis

500

ตัวอย่าง

(ฉ) การวิเคราะห์ Phase Quantitative Analysis

1200

ตัวอย่าง

(ช) ค่าเตรียมตัวอย่าง กรณีบดตัวอย่างหรือตัดขัดชิ้นงาน

150

ตัวอย่าง

(ซ) Diffraction Data (PDF File)

100

ฉบับ