เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ X-ray Diffractometer (XRD)

เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ X-ray Diffractometer (XRD)

ข้อมูลเครื่องมือ

ยี่ห้อ : 

Bruker

รุ่น :

D8 ADVANCE

ประเทศผู้ผลิต :

Germany

รายละเอียดเครื่องมือ :

- Powder diffraction - Thin Film - High Temperature - Small Angle X-ray Scattering (SAXs) - ตัวอย่างที่ทดสอบต้องเป็นผลึก (Crystal) เท่านั้น - ตัวอย่างชนิดเป็นผงละเอียดใช้ปริมาณมากกว่า 1 กรัม (หากตัวอย่างมีน้อยสามารถใช้ Holder แบบ zero background ได้) - ตัวอย่างชนิดที่เป็นชิ้นงานจะต้องมีลักษณะผิวเรียบขนาด 1-1.5x2 เซนติเมตร

 

 

XRD เป็นเครื่องมือที่อาศัยหลักการของ Bragg's Law คือ เมื่อรังสีเอกซ์ตกกระทบกับระนาบของอะตอมภายในผลึก รังสีเอกซ์จะเกิดการสะท้อนที่มุมสะท้อนเท่ากับมุมตกกระทบ ทำให้มีการนำมาใช้ศึกษารูปแบบโครงสร้างผลึกของสารตัวอย่าง ซึ่งผลึกของสารตัวอย่างแต่ละชนิดจะมีขนาดของ Unit Cell ที่ไม่เท่ากัน ทำให้รูปแบบของการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่ได้ออกมาแตกต่างกัน ทำให้สามารถหาความสัมพันธ์ของสารประกอบต่าง ๆ กับรูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ได้ ทำให้สามารถพิสูจน์เอกลักษณ์ (identification) โครงสร้างผลึกของวัสดุหรือสารตัวอย่างนั้นๆได้

เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ X-ray Diffractometer (XRD)

อัตราค่าบริการ (บาท)

หน่วยนับ

หมายเหตุ

(ก) Powder Diffraction หรือชิ้นงานทั่วไป

ตัวอย่าง

(1) (ก) – (ค) ค่าบริการเฉพาะการทดสอบไม่รวมการวิเคราะห์ผล (2) (จ) – (ฉ) ค่าบริการการวิเคราะห์ผล

(ข) การทดสอบด้วยเทคนิค Small Angle X-Ray Scattering (SAXS) หรือ High Resolution XRD (HRXRD)

ตัวอย่าง

(ค) การทดสอบโดยใช้ระบบ High Temperature

ชั่วโมง

(ง) การทดสอบด้วยเทคนิค X-Ray Reflectivity (XRR) หรือTexture

ตัวอย่าง

(จ) การวิเคราะห์ Phase Identification Analysis

ตัวอย่าง

(ฉ) การวิเคราะห์ Phase Quantitative Analysis

ตัวอย่าง

(ช) ค่าเตรียมตัวอย่าง กรณีบดตัวอย่างหรือตัดขัดชิ้นงาน

ตัวอย่าง

(ซ) Diffraction Data (PDF File)

ฉบับ