BenchTop Scanning Electron Microscope (BenchTop-SEM)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดชนิดตั้งโต๊ะเป็นเครื่องมือที่สามารถใช้ในการตรวจวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิว ขนาด รูปร่างของอนุภาคและลักษณะการกระจายของเฟสในโครงสร้างจุลภาค เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยายสูง (<60000 เท่า) ทำให้สามารถศึกษาโครงสร้างระดับไมโครได้อย่างดีในงานด้านวัสดุศาสตร์ นอกจากนี้ยังใช้งานได้ทั้งในโหมดสุญญากาศต่ำและสูง